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我們在這,迎來送往 | CIMT 2017現場的那些精彩

發布時間:2017/3/30 11:13:01

四月末的北京城,有漫天柳絮,有回暖的氣候。而最為重要的是第十五屆中國國際機床展覽會(CIMT 2017),來自展會主辦方的統計顯示,展會前兩日,共有55,361位專業觀眾進館參觀。區別于以往幾屆,本屆展會的觀眾更多帶著具體的項目合作或設備采訪清單前來,市場回暖跡象已經初顯。

在全球目光的注視下,CIMT展會上的“首發”技術正不斷涌現,蔡司就在展會首日揭幕了一款亞洲首發及其他的新產品,在同期舉辦的新品發布會上,以“創新塑造計量未來,智能軟件”主題,和參會的觀眾進行了熱烈的探討與互動。在所展示的工業CT、三維測頭、機器人+光學測頭、智慧軟件等產品和解決方案中,未來的質量保駕之道已經明朗化了。

 

此次亞洲首秀的全新工業CT無損測量技術METROTOM,實現了錐束X射線斷層掃描與坐標測量技術出色的融合,其兼具高精度與多功能的特點,有效取代傳統復雜耗時的檢測方式,解決產品難以觸及與隱藏部位的尺寸及形位公差測量、孔隙率分析、裝配檢驗、模具修改、逆向工程等業界應用難題。能夠無縫對接塑料工程、鋁壓鑄、汽車、電子、精密機械及科研檢測等行業需求。

同時,值得關注的是,傳感器和測頭正為測量帶來前所未來的“高科技”體驗,這在蔡司的CIMT展位上隨處可見。此次展示的新型測頭ZEISS DotScan 白光測頭已經整合到了整個蔡司測量系統。配備DotScan 共聚焦白光測頭的ZEISS ACCURA 多測頭平臺,也是市場上首次推出的裝于萬向旋轉測座上的白光測頭。

而新型光學傳感器LineScan:可在ZEISS CONTURA RDS 機型上應用自如,能并帶來更精密、更可視化的測量。采用LineScan 可以擴展ZEISS CONTURA 的功能,它具有進行快速光學測量的特點??蓪崿F對汽車零部件、模具及產品、以及需要對接觸敏感或結構精細的表面進行測量。

作為新型粗糙度傳感器實現在蔡司三坐標測量機(CMM)完成按標準對粗糙度和波紋度的檢測,新型ZEISS ROTOS 粗糙度傳感器在質量保障檢測中,執行一種新的、更加簡單的工作過程。其目的是在一臺測量機上進行尺寸、位置或外形檢測并可以對相同的工件進行粗糙度和波紋度測量。
 

 

此次參展的鎢燈絲掃描電鏡EVO,在質量標準日益嚴苛的現代工業化產業中幫助客戶進一步檢測樣品的微觀形貌,它具有3nm的成像分辨率,無論是工件表面的微裂紋、斷口、還是夾雜物、第二相,在EVO的觀察下都清晰可辯,無可遁形。SEM在高分辨成像的同時還可以通過EDS能譜精確而高效地檢測模具裂紋、第二相或雜質處的元素成分信息,從而更加深入地理解其失效過程。在蔡司,你既可以通過金相顯微鏡觀察材料組織還可以通過電子顯微鏡進一步放大微觀區域并作元素分析找到其失效源。光鏡和電鏡相結合的顆粒度分析幫助你嚴格把關汽車零配件、模具、精密機械以及航空零部件的質量標準、并直接鎖定其失效源。

 

硬件技術不斷發展的大前提,軟件技術需要同樣的闊步前行。因此,蔡司PiWeb Reporting 已然成為測量機的主流配置。它作為ZEISS 測量軟件包的一部分,對測量結果進行分析和記錄。

 

對于蔡司來說,每次展會都是與客戶近距離的接觸以及了解客戶需求的最佳時機。為此蔡司一直在努力,讓客戶每次都能在我們的展位上發現不一樣的蔡司。蔡司始終把“助力客戶成功”作為我們的核心策略,因為客戶的成功才是我們的成功。

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